LFET（低周波電磁誘導法）と超音波探傷法の比較［対象欠陥：配管の局部減肉］

配管に発生する局部減肉をLFET(低周波電磁誘導法)と超音波探傷法で探傷して検出能力の比較をしました。欠陥形状は漏洩に繋がる最も危険性の高い局部減肉としました。配管は12Bスケジュール20を使用。