TS-2000

■装置概要
TS-2000は低周波電磁誘導法（LFET）を使用した小径配管の探傷を目的とした装置です。Falcon2000よりも広い周波数帯を持ち、炭素鋼からステンレスまで幅広く適用できます。スキャナーを交換することで様々な径の配管に使用することが可能で、またUベンド用スキャナーやクリアランスの小さい配管用の薄型スキャナー、溶接線用スキャナーなど様々なスキャナーがあります。 塗装や錆の影響をほとんど受けず、錆が付いた状態で腐食を検出することもできます。データは全てパソコンに保存され、解析画面でフィルター処理をすることも可能です。

■装置仕様
重量 探傷器本体…3Kg　　
センサー コイル8個
使用電源 AC100V／220V（バッテリーも可能）








■小径配管の検査
TS-2000は塗装や錆の影響を受けないために前処理はほとんど必要ありません。またスキャナーを交換することで様々な径の配管に適用可能です。配管に発生する表面腐食を錆こぶを落とすことなく探傷が可能であり、内面腐食も検出可能です。

■水壁管の検査
TS-2000はボイラーの水壁管などの腐食検査を目的に開発されました。前処理は必要最小限で十分で、またスキャナーを交換することで様々な径の管に適用できます。従来の超音波やX線検査では広い面積を検査することは不可能でしたが、TS-2000はより広範囲を面探傷することが可能です。

■サポート接触部の探傷
サポート接触部の配管腐食の測定方法としてTS-2000による低周波電磁誘導法（LFET）探傷を提案いたします。
配管を60ｍｍ持ち上げるとTS-2000フラットスキャナーを走査することができます。従来はUT厚さ計を用いて残肉
を測定しますが、UTの場合、表面研磨が必要になり火気作業になります。LFET法は表面スケールや荒れがある
ままの状態で探傷評価できますので非常に効率的です。